產品詳情
ContourX家族的桌面旗艦型號，全自動設計，帶編碼器的樣品臺，頭部傾斜設計，和AcuityXR實現高橫向分辨率
ContourX-500 光學輪廓儀是全球功能最全面的自動化臺式系統(tǒng)，可快速完成非接觸式三維表面計量。ContourX-500 具有卓越的 Z 軸分辨率和準確度，并具備布魯克落地式白光干涉（WLI）儀器廣受業(yè)界認可的所有優(yōu)勢，而占地面積更小。該款輪廓儀可輕松自主配置，適用于從精密加工表面和半導體工藝的質量保證／質量控制（QA/QC）計量到眼科和微機電系統(tǒng)（MEMS）器件的研發(fā)表征等廣泛的復雜應用。
傾斜/俯仰
光學頭
旋轉測頭進行不同角度測量表面特征時，將跟蹤誤差減至。
用戶界面
提供對大量預編程過濾器和分析程序的直接調用。
集成式
氣浮隔震
在緊湊空間內提供計量精度。
特點
專為卓越臺式計量設計
布魯克專有的光學頭傾斜/俯仰技術，為用戶生產設置和檢測提供極大的靈活度。布魯克將自動傾斜/俯仰功能與顯微鏡頭中的光路相結合，實現了檢測點與視線的結合，不受傾斜影響，從而減少操作人員的干預，提供最大可重現性。其他硬件功能包括創(chuàng)新工作臺設計，可提升拼接能力；配備一只 5MP 攝像頭，并采用 1200x1000 測量陣列，可降低噪聲、擴大視場并提高橫向分辨率。ContourX-500 將這些功能與自動化平臺設置和物鏡相融合，而且僅占較小的空間，成為“按需測量”研發(fā)和工業(yè)計量的理想系統(tǒng)。
傳統(tǒng)的俯仰滾動工作臺設計需要操作人員調整五個旋轉軸，以將檢測點保持在視線上進行測量。布魯克獨特的光學頭傾斜/俯仰設計，不受傾斜影響，都能將視線保持在檢測點上，從而優(yōu)化圖像采集，并大幅縮短數據獲取時間。
直接使用多種分析
分析微流體器件的底部通道，通過 Vision64 的多個區(qū)域直接提取。
ContourX-500采用布魯克簡單而強大的 VisionXpress? 和 Vision64® 用戶界面，提供數千種自定義分析以提升實驗室和工廠的效率。布魯克全新通用掃描干涉（USI）測量模式可提供全自動、自感知式表面紋理、優(yōu)化信號處理，同時對所分析的表面形貌執(zhí)行最準確、最實際的計算。
